Исследования компонентов, которые имеют нижние контактные площадки

Повреждения после осуществления 1000 термальных циклов

В результате разреза ВТС компонентов по истечению 1000 циклов, были найдены небольшие трещины. Которые как правило проявлялись на боковых сторонах и краях компонента. В тех местах, где было замечено появление пустот, трещины не наблюдались. Больше информации об исследованиях смотрите на сайте https://a-contract.ru/publikacii/issledovanie-nadezhnosti-komponentov-s-nizhnimi-kontak/ компании «А-КОНТРАКТ», которая профессионально занимается производством электроники.

Повреждения после 3000 циклов

Последовательно соединенные компоненты после завершения циклов были проанализированы на наличие повреждений, которых не было выявлено. Но в ВТС компонентах, таких как QFN132, QFN52, QFN3550 и LGA1837 повреждения в виде трещин обнаружены были и находились они в основном на боках исследуемых образцов. К тому же, внутри паяного соединения также были выявлены относительно небольшие дефекты в виде мелких трещин. Стоит отметить, что наиболее серьезные повреждения появились на сигнальных выводах QFN.


Выводы

За весь период исследований, корреляция между пустотами площадки ВТС компонента и качеством его соединения выявлена не была.
Было выявлена определенная закономерность, которая указывала на то, что появление трещин не было связано с пустотами. К тому же, не было получено доказательств свидетельствующих о том, что пустоты каким либо образом влияют на появление трещин в паяных соединениях.

Тепловое моделирование BTC

В этом исследовании проводилась оценка влияния пустот в припое в ВТС компонентов. Была создана специальная модель ВТС, которая благодаря наличию теплового симулятора была проверена на предмет оценки теплоотдачи в печатную плату и окружающую среду. Результаты исследований четко показали, что наличие большого количества пустот ни коем образом не может существенно повлиять на температуру достигаемую продуктом. Оказывается лишь минимальное влияние, что фактически не влияет на результат.

Оставьте отзыв

Ваш email не будет опубликован. Обязательны поля помечены звездочкой. *